绝缘电阻/绝缘阻抗

英文：Insulation Resistance

英文简称: IR

绝缘电阻/绝缘阻抗指物体能承受被电压击穿导通的能力

晶振绝缘电阻/绝缘阻抗

指晶振各绝缘引出端（引脚或焊盘）之间或引出端（引脚或焊盘）与晶振外壳之间的电阻。针对晶振绝缘电阻（IR）的测试是一个定量测试，它反映了晶振的电气绝缘效能，即晶振材料在直流偏压梯度下抵抗漏电流的能力。

绝缘电阻值要求越大越好，它们之间的不导通性越可靠。换句话说，晶振绝缘电阻越高，其抵抗漏电流的能力也就越强，从而提高了工作可靠性和稳定性。晶诺威科技SMD晶振产品系列的绝缘电阻（Insulation Resistance, IR）最小为500MΩ，如下图所示：

晶振绝缘电阻/绝缘阻抗测试方法

1.调整好绝缘电阻测试仪（电压100V±15V）。

2.用仪器表笔碰触被测晶振外壳与引线间（晶片电极引线），测量其之间的绝缘电阻。

3.测得的晶振绝缘电阻应符合晶振产品标准，否则判为不合格。