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无源晶振频率异常原因分析

发布时间:2026/5/12

 

无源晶振频率异常原因分析

(32.768KHz晶振输出频率测试)

无源晶振频率异常原因分析如下:

请检查电路板杂散电容随着温度变化而产生的变化量。在电路板通电后,电路板温度变化会导致电路板杂散电容增加,这些寄生电容变化会直接影响晶振的负载电容值,可能造成晶振振荡频率会发生偏移。

如果驱动功率超过了晶振规格中规定的数值,可能会激发晶振频率跳变。晶振过驱后石英晶片温度会提升,这将导致晶体本身温度特性发生变化。为了避免晶振发生激发性频率跳变,需要降低驱动功率。

增加阻尼电阻的同时,反相放大器的输出幅度会减小,实际驱动功率也会减小。通过这样的调整,振荡幅度也会减小。因此,是检查一下振荡裕量是否超过了5倍。此外,需要注意振荡幅度不能变得太小。

减小外接电容,振荡电路阻抗会增加,实际驱动功率也会减小。这样一来,由于负载电容减小,实际振荡频率会增加。因此,是检查一下实际振荡频率是否仍处于所需频率范围内。

 

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